HE 漏点检测机
HL-Pro领袖系列旗舰版
HQ-200氢氮检漏仪
HM-100残余气体分析仪
HM-400氦质谱检漏仪
桌面式单工位
debug治具-手表
标准漏孔
某半导体设备企业的刻蚀机在客户产线出现真空度不稳定的问题。通过导入海瑞思专业检测方案，精准定位了传动轴动态密封部位的微泄漏。问题解决后，设备平均无故障运行时间从3个月提升至18个月，帮助客户显著提升了产线利用率，并获得了额外的性能提升奖金。
我们凭借在半导体真空设备密封检测领域的深厚积累，已为多家领先的半导体设备制造商提供专业解决方案。欢迎与我们联系，获取针对您设备的定制化检测方案。
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