HE 漏点检测机
HL-Pro领袖系列旗舰版
HQ-200氢氮检漏仪
HM-100残余气体分析仪
HM-400氦质谱检漏仪
桌面式单工位
debug治具-手表
标准漏孔
某高端传感器芯片企业在产品量产阶段遭遇气密封装良率波动问题。通过导入海瑞思全自动检测方案，实现了对晶圆键合质量的100%在线检测。项目实施后，产品封装良率从98.5%稳定提升至99.97%，年度质量成本降低超600万元，并成功进入汽车电子前装市场。
我们凭借在芯片封装检测领域的技术积累，已为多家领先半导体企业提供专业解决方案。欢迎与我们联系，获取针对您产品的定制化检测方案。
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芯片气密性检测和爆破测试——海瑞思案例分享
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