消费电子
手环行业解决方案智能手环作为普及型可穿戴设备,其密封性能直接影响产品在运动、日常佩戴等场景下的可靠性与使用寿命。面对汗水、雨水、灰尘等复杂环境,手环密封失效将导致内部电路腐蚀、功能异常。海瑞思针对智能手环的结构特点和使用场景,提供专业的密封性检测方案,确保产品在全生命周期内保持稳定的密封性能。
我们针对智能手环的半成品及成品提供精准检测:
1.中框来料气密测试:主要检测按键和中框间的密封情况,定制治具对TP(屏幕)点胶面/后壳点胶面进行封堵。 2. 前壳模组气密测试:用于测试 TP 和中框间密封是否合格,采用定制治具对后壳点胶面进行封堵。 3.后壳来料气密测试:检验TP 和中框间密封的达标程度,借助定制治具封堵后壳点胶面。 4.后壳心率镜气密测试:检测心率镜和后壳间密封是否合格,运用定制治具对喇叭孔、MIC 孔、气压计孔、平衡孔、后壳点胶面进行封堵。 5.后壳组件气密测试:对气压计、喇叭、充电桩、心率镜等后壳组件的气密性进行检测,通过定制的治具对 MIC 孔、平衡孔、后壳点胶面进行封堵。 1-5环节都采用半成品结合高低压的测试方法,检测仪器为HC-D高精度差压型仪器,低压测试压力为30KPa,泄漏值不得超过±30Pa;高压测试压力为 500KPa,泄漏值不得超过±100Pa(模厂60pa)。 6.后壳平衡孔、MIC孔真水测试:针对平衡孔、MIC孔的防水透气膜防水性进行检测,测试压力一般为500kPa,且需要定制治具对平衡孔四周进行封堵。 本测试环节采用真水测试方法,使用HW真水检测仪进行检测,进气50KPa,泄漏值在30Pa的为合格品。 7.整机气密测试:对整机进行全面测试,需定制治具对平衡孔、MIC孔进行封堵。
整机测试采用成品结合高低压测试方法,检测仪器为HC-D高精度差压型。低压测试前进行大漏测试,不超过±100Pa后进行气密测试。气密测试测试压力为30KPa,期间泄漏值不超过±30Pa;高压测试前进行大漏测试,不超过±1500Pa方可进行气密测试,气密测试测试压力为500KPa,期间泄漏值不超过±100Pa。 8.不良品检测:针对检测过程中出现的不良品(整机/部件)需要查找漏点时,推荐采用Debug治具进行查找。
高精度传感器,检测结果稳定可靠。
核心技术自研,核心部件模块化生产,性能卓越,性价比高。
全面覆盖从部件到整机的多种需求,解决99%的气密检测难题。
匹配自动化产线,契合客户生产节拍,大幅提高交付能力。



