HE 漏点检测机
HL-Pro领袖系列旗舰版
HQ-200氢氮检漏仪
HM-100残余气体分析仪
HM-400氦质谱检漏仪
桌面式单工位
debug治具-手表
标准漏孔
某半导体制造企业在先进制程量产中遭遇批次性良率问题。通过引入海瑞思全流程检测方案，在多个工艺设备中发现微泄漏问题。问题解决后，产品良率显著提升，每年避免损失超1500万元，并建立了完善的设备密封性监测体系。
我们凭借在半导体制造密封检测领域的深厚技术积累，已为多个先进制造企业提供专业解决方案。欢迎与我们联系，获取针对您产线的定制化检测方案。
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